掃描電子顯微鏡 高性能電子顯微鏡<裝卸捆包搬運(yùn)>的Arthur查詢到(SEM) 可通過使用聚焦的電子束對樣品進(jìn)行掃描來生成圖像。樣品中原子與電子的相互作用會(huì)產(chǎn)生含有表面形貌特征和組成信息的信號(hào)。我們的 SEM 具有從幾納米到亞納米范圍的分辨力實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?能力。

掃描電子顯微鏡 (SEM) 的革命性復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)將靜電與磁浸沒技術(shù)相結(jié)合，產(chǎn)生實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?的分辨率及信號(hào)選擇。這使得 Apreo SEM 成為納米顆粒、催化劑、粉末以及納米儀器研究的實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?，且不會(huì)影響磁性樣品性能。

將成像與分析的綜合性能與實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?的環(huán)境模式(ESEM)相結(jié)合，可在一般狀態(tài)下研究樣品。。它是各種學(xué)術(shù)，工業(yè)和政府實(shí)驗(yàn)室的理想選擇，這些實(shí)驗(yàn)室希望在支持獨(dú)T<194>原位 實(shí)驗(yàn)的平臺(tái)上為不同經(jīng)驗(yàn)水平和學(xué)科的多個(gè)用戶提供所需的多功能性和易用性。 實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?