erios SEM 的<裝卸捆包搬運(yùn)>高性能電子顯微鏡實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?的亞瑟發(fā)現(xiàn)可提供在 1 至 30 kV 能量范圍亞納米分辨率的精ZHUEN成像。它可實(shí)現(xiàn)在一系列應(yīng)用中材料精ZHUN測量所需的極JIA對(duì)比度，且并不會(huì)降低傳統(tǒng) SEM 所具有的高通量、分析能力、樣品靈活性及易用性。Verios SEM 采用一些獨(dú)TE的技術(shù)，諸如具有更高熱穩(wěn)定性的恒功率透鏡以及更高掃描線性的靜電掃描。（ESEM）。所有這些都可以滿足工業(yè)過程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的多種樣品和成像實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?要求。