亞瑟半導(dǎo)體設(shè)備搬運(yùn)公司觀察到蔡司公司推出Sigma300場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了極致，采用適宜的探針電流范圍，降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?

亞瑟半導(dǎo)體設(shè)備搬運(yùn)公司觀察到Sigma300將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?

亞瑟半導(dǎo)體設(shè)備搬運(yùn)公司觀察到Sigma自動(dòng)的四步工作流程大大節(jié)省了設(shè)置與分析操作的時(shí)間   
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗(yàn)和研究。??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?

在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分 析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶 粒取向測(cè)量。上海蔡司電鏡搬運(yùn)，上海蔡司顯微鏡搬運(yùn)，上海蔡司電子顯微鏡裝卸搬運(yùn)，蔡司顯微鏡裝卸搬運(yùn)吊裝移入運(yùn)輸??實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?