透射電子顯微鏡TEM電鏡（裝卸搬運(yùn)運(yùn)輸）(Transmission Electron Microscope,簡(jiǎn)稱TEM),可以看到在光學(xué)實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?下無(wú)法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。

要想看清這些結(jié)構(gòu)，就***選擇實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。

1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡，電子束的波長(zhǎng)要比可見(jiàn)光和紫外光短得多，并且電子束的波長(zhǎng)與發(fā)射電子束的實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?平方根成反比，也就是說(shuō)電壓越高波長(zhǎng)越短

目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。

亞瑟在透射搬遷領(lǐng)域有一套成熟且穩(wěn)定設(shè)備搬遷搬運(yùn)方案，打包運(yùn)輸移入移出組裝提供一站式服務(wù)