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2020-09-08 來(lái)自: 亞瑟半導(dǎo)體設(shè)備安裝(上海)有限公司 瀏覽次數(shù):238
蔡司引進(jìn)sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電子纖維鏡,采用成熟的Gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),將低壓成像技術(shù)發(fā)揮到極致,采用適當(dāng)?shù)奶筋^電流范圍,信噪比降低50%,對(duì)比度信息提高85%。sigma300***的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,有多種探測(cè)器可用于粒子和表面納米結(jié)構(gòu)成像。西格瑪自動(dòng)化的四步工作流程大大節(jié)省了設(shè)定和分析操作的時(shí)間。實(shí)?驗(yàn)?室?搬?遷?掃描電子纖維鏡(SEM)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)研究領(lǐng)域的金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等的檢驗(yàn)研究,金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域,對(duì)材料的微觀形態(tài)、結(jié)構(gòu)和成分分析,對(duì)各種材料的形態(tài)和微觀結(jié)構(gòu)觀察,對(duì)材料的斷口進(jìn)行分析和失效分析,材料的實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析、定量和定性元素分析、快速多元素平面掃描和線掃描分布測(cè)量、晶體和晶粒相識(shí)別、晶粒尺寸和形狀分析、晶體和晶粒取向測(cè)量。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡搬運(yùn)裝卸打包,蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡搬遷移入裝卸捆包,鎢燈絲掃描電子顯微鏡裝卸搬運(yùn)移入運(yùn)輸,掃描電鏡與拉曼光譜設(shè)備移入吊裝搬運(yùn)
運(yùn)營(yíng)項(xiàng)目
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